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X射線熒光光譜(XRF)分析法是對各種各樣材料進行元素測定的一種現代化的通用分析方法。不管是塊狀樣品、粉末樣品還是液體樣品，位于元素周期表上從11號元素鈹（Na）到92號元素鈾（U）之間的幾乎所有元素都可以進行精確的定性、定量和無標樣分析。

波長色散X熒光分析儀是我公司總結我國多年來研制該類型儀器的經驗和教訓,并吸收與參照國際先進技術基礎上,深入進行產業(yè)化研發(fā)形成的高科技產品,各項技術性能指標均已達到國際同類產品水平。

X射線熒光鍍層測厚儀是采用能量色散X熒光分析技術，同時測量多種元素的分析儀器，根據用戶應用要求可配置為從Na到U的任意多種元素的分析測定。另外配以功能齊全的測試軟件、友好的操作界面來滿足金屬鍍層及元素含量測定的需要，人性化的設計，使測試工作更加輕松完成。此儀器具有測量元素含量與鍍層厚度檢測的兩種功能。

便攜式X射線熒光光譜儀是采用能量色散X熒光分析技術，同時測量多種元素的分析儀器，根據用戶應用要求可配置為從Na到U的任意多種元素的分析測定。該儀器可廣泛應用于環(huán)保、考古、建材、野外采礦、垃圾回收、RoHS指令等各種行業(yè)。

波長色散X熒光分析儀是我公司總結我國多年來研制該類型儀器的經驗和教訓,并吸收與參照國際先進技術基礎上，深入進行產業(yè)化研發(fā)形成的高科技產品，各項技術性能指標均已達到國際同類產品水平。X熒光分析儀可以應用于任何需要分析Na以上到U的元素或化合物成分分析的領域，例如建材(水泥、玻璃、陶瓷)、冶金(鋼鐵、有色金屬)、石油（微量元素如S、Pb等）、化工、地質采礦、商品檢驗、質量檢驗甚至人體微量元素的檢驗等等。是常量分析和微量分析的可靠工具，也應用于大專院校和科研單位。